- 產品描述
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- 商品名稱: 多導毛細聚焦X熒光光譜儀 XAD-μ
- 關鍵詞: 毛細聚焦 超微小區域檢測
XAD-μ是一款專用于超小測量點或納米級涂層的分析儀器。可用于柔性電路板、金手指、連接器、引線框架、傳感器、IC載板等領域的超微小區域檢測。
性能優勢
● 小至10μm的測量直徑
● 更高的測試精度
● 高于普通光譜儀1000倍以上的聚焦光源
● 更好的測試穩定性
● 更低的檢出限
典型應用領域




柔性電路板(FPC/PCB)
主要測試鎳鈀金、鍍層及合金成分含量傳感器芯片
傳感器芯片鐵鎳合金的成分和厚度分析引線框架
主要測試鍍層及合金成分含量
鍍層包含鎳鈀金、鍍銀、鍍錫的厚度檢測IC封裝載板
主要測試鍍層及合金成分含量
鍍層包含鎳鈀金的厚度檢測
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400-850-1617