● 涂鍍層分析<br />
● 新材料檢測<br />
● 地質地礦檢測<br />
● 貴金屬檢測<br />
● 合金成分分析<br />
● P含量檢測<br />
匠心打造的新一代設計，是一款獨具科技感的一機多用型光譜儀，采用先進的EFP算法和微光聚集技術的同時搭配新一代的多道及時序排列，專精型既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區ROHS檢測及全元素分析，每一個功能都是最專業的。
性能優勢
|
● 微聚焦X射線裝置
搭載微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.03mm²
|
● 自主研發的EFP算法
Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精確測量
|
|
● 變焦裝置及位置補償算法
可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm
|
● 一機多用、精檢精測
各裝置高度集成，不分散、不弱化光強，能夠完全兼顧ROHS、全元素分析、各種大小異形涂鍍層樣品的快速精準檢測
|
典型行業應用
 |
 |
 |
 |
|
鍍層測厚
NiP/Fe...
|
成分分析
不銹鋼含量分析...
|
貴金屬檢測
Au/Pd/Rh...
|
環保行業
RoHS...
|
技術參數
|
型號
|
XAU-4CS
|
|
涂鍍層分析
|
可同時分析23個鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析，可檢測Li（3）- U（92）涂鍍層90種元素
|
|
RoHS分析
|
有害元素檢測（RoHS、鹵素）
|
|
成分分析
|
用于地礦、合金及貴金屬等物質中Al（13）-U（92）的80種元素成分分析
|
|
EFP算法
|
標配
|
|
軟件操作
|
人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
|
|
分析時間
|
1-200秒
|
|
信號及接收
|
DPP+FAST SDD
|
|
X射線裝置
|
微聚焦加強型射線管
|
|
準直器
|
標配□0.1*0.3mm;φ0.3mm;φ1.2mm;φ3mm（可選φ0.2mm;φ0.5mm;φ1.2mm;φ3mm）
（四準直器自動切換）
|
|
微光聚焦技術
|
最近測距光斑擴散度小于10%
|
|
濾光片
|
集成嵌入式多濾光片切換裝置
|
|
測量距離
|
具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm
|
|
對焦方式
|
高敏感鏡頭，手動對焦
|
|
儀器尺寸
|
545mm*380mm*430mm
|
|
樣品腔尺寸
|
370mm*340mm*170mm
|
|
樣品臺移動
|
高精密XY手動滑軌
|
|
可移動范圍
|
50mm*50mm
|
|
儀器重量
|
50KG
|
|
其他附件
|
電腦一套、打印機、附件箱、十二元素片、RoHS標準片、標準片、電鍍液測量杯（選配）
|
|
X射線標準
|
DIN ISO 3497、ASTM B 568
|
400-850-1617